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仪器设备
透射电子显微镜
时间:2017-10-09    阅读:
型号 JEM-2100 介绍 透射电子显微镜

资产编号

20091832

仪器名称

透射电子显微镜

英文名称

Transmission electron microscopy

规格/型号

JEM-2100

生产厂商

日本电子株式会社

国别

日本

所属单位

分析测试中心

放置地点

122

负责人

潘红阳

邮箱:rickypan@jiangnan.edu.cn

收费标准


性能指标

电子枪:LaB6

点分辨率:0.23nm

线分辨率:0.14nm

加速电压:200kV

束斑尺寸:1.0-25nm

放大倍数(高倍):200-1500000

放大倍数(低倍):50-6000

倾斜角:±35°

能谱仪能量分辨率(MnK):优于136eV

分析元素:5B-92U

主要应用

透射像(明场、暗场和高分辨像)观察,选区电子衍射结构分析和纳米区域的成分分析。

主要应用于固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析。

样品要求

送样人员必需详细说明来样材料种类、制作方式与溶剂种类等,本仪器室对来样限制如下:

1、来样应该具有足够的机械强度,以避免进出电镜镜筒或检测过程中,发生剥落、碎裂等情况;另外,滴入铜网上的样品切勿太多、太厚。

2、 以下材料来样拒绝受理:1)低熔点的材料(如:铟,锡,镓等,会产生相变及蒸镀效应);2)在电子束照射下会分解或释出气体的样品(如有机物、高分子等,会污染真空系统);3)具有强磁性或易被电磁透镜吸引的粉末型式样品或材料;4)未经正确处理或充分干燥的粉末样品。

3、弱磁性粉末,如先利用SQUIDVSM测量其磁力距(40 emu/g以下),证明不会产生污染,可予以上机。

仪器说明