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形貌观察
原子力显微镜(AFM)
时间:2017-10-09    阅读:

资产编号

20127232

仪器名称

原子力显微镜

英文名称

Atomic  Force    Microscopy

规格/型号

Dimension Icon

生产厂商

德国Bruker公司

国别

德国

所属单位

分析测试中心

放置地点

213

负责人

负责人:     秦昉

邮箱:qfflast@sina.com

收费标准


性能指标

分辨率:   XY≤0.2nm,Z≤0.01nm

RMS 噪音: <0.050 nm

温度控制:-30--200

湿度控制:20--80%

具备闭环扫描功能

扫描范围:水平/0.5~125um  

主要应用

主要用于在大气及液体环境下准确地观测样品表面微区三维形貌,测试样品的颗粒大小和表面粗糙度等,同时可对表面的力学性能进行研究,可用来精确测试力学特性,如分子之间作用力及颗粒之间的作用力等,.测定不同材质的模量差别或对某区域的模量定量测定。

样品要求

样品上下表面整洁,没有油渍灰尘等污染物   , 若是纳米颗粒样品,先用一定的分散剂超声分散后,取一滴在云母等很平整的基底上,干燥后测试。若没有云母片,请在测试前到本实验室来取。  如果样品表面有无机盐,先用水等清除盐分后来测试,因为盐分结晶影响形貌的扫描。  如果是要测试薄膜厚度,预先把薄膜和基底作出一个边界清楚的台阶。

仪器说明

该仪器可以在大气和液体中进行纳米形貌测试;仪器配有防震台和隔音罩,可以得到更高质量的图谱。可对样品表面物理化学特性进行研究,含磁场力、静电力显微镜。